量子效率測(cè)試儀可提供大面積的均勻光斑，比傳統(tǒng)積分球提供更強(qiáng)的光強(qiáng)，可以測(cè)量相機(jī)像素的量子效率以及整個(gè)芯片的相機(jī)參數(shù)。準(zhǔn)直光學(xué)技術(shù)，提供半角1度的準(zhǔn)直光，可以進(jìn)行變角度CRA和CROSSTALK測(cè)試。利用分光技術(shù)，測(cè)量的波長(zhǎng)范圍更可擴(kuò)展到190 nm-2600 nm。是一高性能的傳感器綜合測(cè)試系統(tǒng)。
量子效率測(cè)試儀使用方法與步驟：
(1)：將待測(cè)CCD芯片和標(biāo)準(zhǔn)探測(cè)器，以及它們各自的驅(qū)動(dòng)電路放置在暗室中，并調(diào)節(jié)測(cè)量系統(tǒng)各部分儀器的參數(shù)。打開(kāi)光源的開(kāi)關(guān)，使電流保證在8.4到8.6安，打開(kāi)單色儀開(kāi)關(guān)，打開(kāi)皮安表開(kāi)關(guān)和移動(dòng)位移臺(tái)的開(kāi)關(guān)。
(2)：通過(guò)上位機(jī)程序控制待測(cè)CCD芯片電子快門，調(diào)整CCD芯片的積分時(shí)間來(lái)控制CCD芯片的曝光時(shí)間和曝光量。(一般調(diào)好不用管)。
(3)：調(diào)節(jié)移動(dòng)位移臺(tái)，將標(biāo)準(zhǔn)件調(diào)到和激光光斑重合處(目前大約41500)。
(4)：記錄皮安表的數(shù)值，查表，找出對(duì)應(yīng)波長(zhǎng)的數(shù)值，用皮安表的數(shù)值除以查表得出的值，得出功率值。(正好皮安對(duì)皮瓦)。
(5)：蓋住CCD相機(jī)的鏡頭，在CCD上位軟件上，連接設(shè)備，連續(xù)采圖，設(shè)置參數(shù)中輸入對(duì)應(yīng)波長(zhǎng)，功率值后。再單擊量子效率，完成暗圖像的采集。
(6)：調(diào)節(jié)移動(dòng)位移臺(tái)，將CCD工業(yè)相機(jī)調(diào)到激光光斑重合處，(目前大約是回到原點(diǎn))。
(7)：揭開(kāi)CCD的鏡頭，讓激光光斑打到CCD上，在設(shè)置參數(shù)中輸入對(duì)應(yīng)波長(zhǎng)，功率值后，亮圖上打上對(duì)勾。再單擊量子效率，完成亮圖像的采集。
(8)：記錄量子效率的值。
(9)；在單色儀的上位軟件里，設(shè)定對(duì)應(yīng)波長(zhǎng)，波長(zhǎng)從400nm-780nm。設(shè)置起始波長(zhǎng)為400nm，每隔20nm，重復(fù)(3)到(8)步驟測(cè)一次量子效率的值。直到780nm為止。
(10)：繪制量子效率的曲線。
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